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苏州矽利康测试系统有限公司

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邮 箱:James@sststech.com
网 址:www.sststech.com
产品展示
小Pitch测试探针卡

小Pitch测试探针卡
≤30μm in-line
≤30x60μm 2 row stagger
≤40x80μm 3 or 4 row stagger
≤50x50μm pad size

多Site测试探针卡

多Site测试探针卡
多Site测试探针卡应用于多产品的并行测试,提高测试效率, 可覆盖多种测试对象i.e. Memory、Logic、Analog、Digital 和其他测试对象。

LDI测试探针卡

LDI测试探针卡
LDI (LCD Driver IC) 探针卡用于LCD driver IC CP测试和FT测试。

IS测试探针卡

IS测试探针卡
I-S (Image Sensor) 探针卡是用于image sensor 产品的性能测试。

垂直式探针卡

垂直式探针卡
SSTS 提供先进垂直探针卡, 以满足客户的需要。

刀片式探针卡

刀片式探针卡
SSTS 提供多样式的刀片式探针卡,包含陶瓷、金属等。

其他探针卡

其他探针卡
1. 高频测试探针卡
2. WAT/PCM 晶圆测试探针卡
3. 高电压/大电流测试探针卡

公司简介

  苏州矽利康测试系统有限公司(SSTS2009年成立,位于中国苏州工业园区,公司专注于测试探针卡和测试系统的研发、制造和服务。作为一家正在快速增长的测试方案提供商,目前,我们的产品已被广泛应用于半导体晶圆测试及其他相关测试领域,矽利康全体员工坚持以客户至上、交货及时、持续改善、艺术化创造为奋斗目标,全力以赴地为海内外的客户提供最优异的产品和最满意的...